Исследование влияния радиации на дефектообразование и электрофизические свойства полупроводниковых структур и приборов Гафуров Одилжон Вадудович

Данный автореферат диссертации должен поступить в библиотеки в ближайшее время
Уведомить о поступлении

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - 240 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Гафуров Одилжон Вадудович. Исследование влияния радиации на дефектообразование и электрофизические свойства полупроводниковых структур и приборов : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07.- Душанбе, 2002.- 126 с.: ил. РГБ ОД, 61 03-1/944-8

Похожие диссертации на Исследование влияния радиации на дефектообразование и электрофизические свойства полупроводниковых структур и приборов

Влияние радиации на электрофизические свойства и механизм дефектообразования полупроводниковых структур и приборовХоджаев, Тоир Абдуллоевич

Исследования зарядовых процессов в инжекционно модифицированных структурах и разработка приборов на их основеТкаченко Алексей Леонидович

Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основеСтоляров Максим Александрович

Изменение состава и структуры многокомпонентных металлических материалов при бомбардировке их поверхности заряженными высокоэнергетическими частицами в электронных приборахЕсаулов Михаил Николаевич

Методики и приборы рентгеновской и флуоресцентной спектроскопии для исследования быстропротекающих процессов в горячей плазме, конденсированных и гетерогенных средахТокарев, Владимир Анатольевич

Исследования физических процессов в люминофорах при воздействии на них излучений безэлектродных высокочастотных разрядов в парортутных средах с целью создания высокоэффективных световых приборовВодоватов Леонид Борисович

Исследование влияния продуктов деления оксидного топлива на выходную мощность термоэмиссионных электрогенерирующих каналовШумилов, Алексей Андреевич

Исследование влияния деформации на структуру кристаллов сульфида и селенида цинка методом ЭПР Омельченко Сергей Александрович

Разработка методов измерения параметров сверхгладких поверхностей и исследование влияния субнанометровых неровностей на рентгенооптические свойства многослойных структурГусев, Сергей Александрович

Теоретическое исследование влияния дефектов на структуру и свойства монослоя гексагонального нитрида бораСержантова, Мария Викторовна