Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем Трушин Владимир Николаевич

Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем
<
Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем
>

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Трушин Владимир Николаевич. Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.07, 01.04.01 / Трушин Владимир Николаевич; [Место защиты: Нижегор. гос. ун-т им. Н.И. Лобачевского].- Нижний Новгород, 2009.- 284 с.: ил. РГБ ОД, 71 10-1/129

Введение к работе

Актуальность темы исследования

Хорошо известно, что интенсивность рентгеновских дифракционных максимумов массивных идеальных кристаллов сильно отличается от интенсивности дифракционных максимумов искаженных кристаллов [1]. Это дает возможность с помощью определенных воздействий на дифрагирующий кристалл изменять рентгенодифракционные параметры кристаллов и на основе анализа этих изменения судить о структурных несовершенствах данного кристалла. Кроме того, исследование изменений рентгенодифракционных параметров кристаллов под действием внешних воздействий является перспективным направлением в создании устройств рентгеновской оптики.

В настоящее время созданы целые направления, связанные с управлением пучками рентгеновского излучения: брэгг-френелевские линзы [2, 3], многослойные интерференционные зеркала и зонные дифракционные пластинки [4-7], рентгеновские капиллярные фокусирующие системы [8], кристаллические и многослойные монохроматоры [9]. Исследуется также возможность создания фокусирующих оптических систем на основе деформируемых кристаллов и периодических структур с переменным периодом [10, 11]. Для фокусировки рентгеновского излучения обычно используют изогнутые кристаллы, являющиеся основным элементом почти любой рентгенооптической схемы. Для придания заданной формы поверхности кристалла используют различные способы его изгиба, например упругой деформации [12, 13], термопластического изгиба [14, 15] и др. На результат фокусировки рентгеновского излучения изогнутыми кристаллами, помимо геометрических искажений и структурных несовершенств, влияет отклонение локальной кривизны изгиба от заданной, что в значительной степени влияет на параметры рентгенооптических систем. В этом случае актуальным является развитие методов адаптивной рентгеновской оптики, позволяющих корректировать сходимость рентгеновских пучков путем управления профилем изгиба кристалла или (и) локальным изменением параметров его решетки. К числу таких задач относится разработка способов и создание элементов для управления рентгеновскими пучками. Решение данной задачи открывает новые возможности для развития управляемой рентгеновской оптики, например, можно было бы модулировать рентгеновское излучение, т.е. получать эффекты, аналогичные оптическим [16], в рентгеновском диапазоне волн.

Привлекательной является идея внешнего управления дифракционной средой. Это позволяет непрерывно изменять параметры дифракционного максимума и возвращать среду в исходное состояние за счет обратимого воздействия. Реализация идеи управления параметрами среды существенно затруднена целым рядом причин, в частности необходимо отобрать такие

типы воздействий и такие среды, которые приводили бы к заметным эффектам на дифракционной картине.

В качестве внешних воздействий, обратимо изменяющие структуру кристаллов, могут быть поверхностные акустические волны [17,18], наложение внешнего электрического поля [А1 - A3], облучение кристалла лазерным пучком [A3 - А9] и др.

Общая цель диссертационной работы заключается в исследовании и развитии экспериментальных подходов к управлению рентгеновским излучением с помощью воздействия на кристаллы тепловыми и электрическими ПОЛЯМИ.

Для достижения этой цели возникла необходимость решения следующих задач:

1. Исследовать влияние внешних неоднородных воздействий на
характеристики рентгеновских дифракционных максимумов кристаллов. На
основе проведенных исследований разработать способы управления
интенсивностью рентгеновского излучения;

2. На основе анализа зависимостей влияния электрического поля и
лазерного излучения на интенсивность дифракции рентгеновских лучей в
реальных кристаллах попытаться найти подходы к использованию
полученных результатов для контроля качества кристаллов;

  1. Исследовать возможность термоиндуцированного управления угловым рассогласованием рентгеновских дифракционных максимумов кристаллов. Разработать способы корректировки сходимости рентгеновских пучков;

  2. Исследовать возможность формирования пространственной структуры рентгеновских дифракционных пучков (рентгеновских изображений) тепловым воздействием света на дифрагирующий кристалл;

  3. Исследовать влияние теплового воздействия света на дисперсионные свойства кристаллов, разработать способы управления их дисперсионными свойствами.

  4. Разработать принципы построения элементов адаптивной рентгеновской оптики. Разработать способы корректировки профиля изгиба поверхности дифракционных элементов с использованием тепловых и электрических полей.

В качестве основных методов исследования нами применены методы рентгеновской дифрактометрии, эллипсометрии, рентгеновской топографии и компьютерного моделирования.

Научная новизна работы заключается в том, что в ней развит новый подход к управлению рентгеновским излучением на основе влияния электрического поля, лазерного излучения и теплового воздействия света на параметры дифракционных максимумов кристаллов. Разработаны новые способы модуляции интенсивности рентгеновского излучения, изменения

дисперсионных свойств кристаллов, формирования пространственной структуры рентгеновских пучков и их сходимости.

В диссертационной работе впервые изучены и решены следующие вопросы:

  1. Получены значительные обратимые изменения интенсивности дифракционных рентгеновских максимумов (А1/10 до 500%) при непосредственном приложении модулирующего электрического ПОЛЯ к электродам на гранях кристалла.

  2. Получены и описаны обратимые изменения интенсивности рентгеновских дифракционных максимумов при облучении массивных монокристаллов лазерным излучением малой мощности.

  3. Разработаны способы модуляции рентгеновского излучения путем воздействия на кристалл электрического поля и лазерного излучения.

  4. Предложен новый подход к методам контроля совершенства кристаллов, который основан на закономерностях влияния лазерного излучения и электрического поля на дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах с разной плотностью дислокаций.

  5. Показана возможность и разработан новый способ корректировки сходимости рентгеновских пучков путем управления искажением решетки кристалла с помощью теплового воздействия света на его поверхность.

  6. Разработан способ формирования пространственной структуры рентгеновских дифракционных пучков, отраженных от поверхности кристаллов, (рентгеновских изображений) при освещении поверхности пространственно модулированным по интенсивности световым пучком, позволяющим, в частности, локализовано воздействовать на биологическую ткань.

  7. Показана возможность увеличения разрешающей способности рентгеновских изображений при дифракции рентгеновских лучей на кристаллах, имеющих колончатую структуру поверхности.

  8. Показано, что путем управления профилем светоиндуцированной тепловой деформации кристалла можно изменять его ширину кривой дифракционного отражения. Разработаны методы управления шириной кривой дифракционного отражения кристалл-монохроматоров, профиль тепловой деформации, на поверхности которых создается с помощью полупроводниковых ПК лазеров и оптического излучения видимого диапазона.

  9. Разработаны оригинальные способы корректировки профиля изгиба поверхности дифракционных элементов, осуществляемые локальными изменениями радиусов кривизны модульной подложки.

Практическое значение работы

Результаты проведенных исследований могут быть использованы:

для получения рентгеновских пучков переменной интенсивности с целью передачи информации сквозь экраны, сделанные из материалов, непроницаемых для других видов электромагнитных волн;

в методах интегральной диагностики совершенства кристаллов;

в системах рентгеновской фокусирующей оптики для корректировки сходимости рентгеновских пучков;

в рентгеновской спектроскопии и дифрактометрии для управления дисперсионными свойствами кристаллов;

в радиологии для формирования пространственно неоднородного распределения интенсивности в рентгеновском пучке с целью локализованного и дозированного воздействия на биологическую ткань.

Похожие диссертации на Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем