Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки Айрапетян, Вачаган Каранович

Данная диссертационная работа должна поступить в библиотеки в ближайшее время
Уведомить о поступлении

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Айрапетян, Вачаган Каранович. Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Всерос. электротехнич. ин-т.- Москва, 1994.- 28 с.: ил. РГБ ОД, 9 94-2/2789-2

Введение к работе

Актуальность.

Настоящая работа посвящена исследованию надежности силовых транзисторов (СТ), которые являются основным активным элементом преобразовательной техники. Быстрое развитие преобразовательной техники в значительной степени оказалось возможным благодаря применению СТ,которые в последние десятилетия успешно конкурируют с силовыми тиристорами.

Необходимым условием дальнейшего повышения качества преобразовательных устройств является создание надежных СТ. Анализ путей обеспечения и повышения надежности полупроводниковых приборов показывает,что для их осуществления применительно к СТ необходимо решить следующие основные задачи:

выбор и обоснование режимов испытаний СТ на надежность, а также разработка методик их проведения;

выбор и обоснование наиболее информативных параметров СТ и разработка методик их измерения.

Решение первой задачи позволяет:

получить достоверные значения показателей надежности(ПН), определить зависимости ПН СТ от коэффициентов загрузки и времени в различных режимах применения;

определить режимы принудительной тренировки СТ с целью отбраковки дефектных приборов;

получить достоверную информацию о технологических и конструктивных дефектах СТ.

Решение второй задачи необходимо для неразрушающей отбраковки потенциально ненадежных СТ и снижения стоимости приборов при одновременном повышении уровня их надежности.

Следует отметить, что СТ являются сравнительно новым дискретным элементом твердотельной электроники, недостаточно изученным с точки зрения надежности.Существующие методы испытаний на надежность не позволяют точно оценить ПН СТ и выявить основные механизмы их отказов.Отсутствует также информация о распределении отказов во времени,что не позволяет обосновывать экономически-оптимальные режимы тренировки СТ.

Что касается изучения таких информативных параметров СТ, как низкочастотный шум (НЧШ) и т-фактор,то до сих пор они исследовались только для маломощных транзисторов и методики их измерения для силовых приборов с целью отбраковки потенциально ненадежных транзисторов отсутствуют.

Поэтому исследование и разработка методов отбраковки ненадежных СТ представлется весьма актуальной задачей.

Целью работы являлось:

определение показателей надежности СТ в трех режимах испытаний, а именно: в "ждущем" и динамическом режимах и в режиме термоэлектроциклирования;

определение законов распределения основных параметров СТ и законов распределения их отказов во времени;

разработка методов измерений и проведение экспериментальных исследований НЧШ и т-фактора с целью последующей отбраковки СТ.-

Методы исследования. В процессе решения задач диссертационной работы использовались методы теории вероятностей и математической статистики, физической и математической теории надежности,физики полупроводниковых приборов. Экспериментальные исследования и испытания проводились как на стандартном, так и на специально разработанном оборудовании.

Научная новизна работы:

- Определены законы распределения отказов СТ в трех основных
режимах испытаний, а также определены зависимости ПН от
времени и нагрузки в "ждущем" режиме, в том числе впервые

получено значение энергии активации для СТ.

Впервые приведены данные о показателях надежности СТ в различных режимах испытаний.

определены зависимости НЧШ и m-фактора СТ от параметров нагрузки.

впервые для СТ применены методы теории распознования образов для анализа результатов испытаний СТ и построена соответствующая математическая модель.

Основные положения работы, выносимые на защиту. Автором разработаны и выносятся на защиту:

результаты испытаний СТ на надежность в .базовых режимах;

результаты исследований НЧШ и ш-фактора СТ и их зависи- мости от параметров нагрузки:

применение теории распознования образов с целью выявления наиболее информативных параметров СТ и алгоритм подсчета индекса их информативности;

модели повышения надежности С'Т'за счет тренировки и отбраковки потенциально ненадежных приборов.

Практическая значимость и реализация результатов работы. Предложенные в диссертации методы испытаний СТ на надежность з предельно-допустимых электрических и тепловых режимах, максимально приближенные к реальным условиям эксплуатации, позволяют получать объективную информацию об истинных значениях ПН СТ.

Предложенная в диссертации методика и режимы для проведения термоэлектротренировки использовались в НШ "Транзистор" для повышения надежности СТ.

Проведенный анализ по выявлению причин отказоБ после испытаний позволяет исключить технологические и конструктивные дефекты СТ и повысить тем самым уровень их качества.

Апробация работы. Основные результаты работы докладывались на Всесоюзной конференции "Надежность силовых полупроводниковых приборов и преобразователей на их основе" (г.Саранск,1933 г.),на научно-техническом семинаре "Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах"(г.Черноголовка,!990г.),на 3-й Всесоюзной научно-технической конференции "Основные направ-

ления развития конструирования,технология и исследования силовых полупроводниковых приборов"(г.Москва,191г.).

Публикации. По теме диссертации опубликовано 6 печатных, работ.

Структура и объем работы. Диссертационная работа состоит из введения, пяти глав, заключения, двух приложений, списка обозначений и Списка литературы. Основное содержание диссертации' изложено на 108 страницах машинописного текста, содержит 95 иллюстраций, 14 таблиц, список литературы из 202 наименований на 19 страницах.

Похожие диссертации на Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки