Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения Зебрев Геннадий Иванович

Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения
<
Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения
>

Данный автореферат диссертации должен поступить в библиотеки в ближайшее время
Уведомить о поступлении

Диссертация - 480 руб., доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Автореферат - 240 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Зебрев Геннадий Иванович. Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01.- Москва, 2003.- 126 с.: ил. РГБ ОД, 61 03-5/3796-2

Похожие диссертации на Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения