Получение и соединение индиевых контактов в изделиях микроэлектроники Нестеров Дмитрий Васильевич

Данный автореферат диссертации должен поступить в библиотеки в ближайшее время
Уведомить о поступлении

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - 240 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Нестеров Дмитрий Васильевич. Получение и соединение индиевых контактов в изделиях микроэлектроники : Дис. ... канд. техн. наук : 05.16.01 : Москва, 2004 95 c. РГБ ОД, 61:05-5/1776

Похожие диссертации на Получение и соединение индиевых контактов в изделиях микроэлектроники

Металловедческие основы получения соединений коррозионно-стойкой стали и пористых никелевых материалов лазерным излучением при производстве фильтровБеляев, Евгений Сергеевич

Разработка статистического метода контроля дефектности рабочих пластин на основе моделирования выхода годных и его применение при анализе и прогнозировании производства изделий микроэлектроникиРадаев, Александр Анатольевич

Разработка методов и средств контроля параметров технологии водоподготовки в производстве изделий микроэлектроникиЖирков Михаил Васильевич

Разработка и исследование метода проектирования технологических процессов выращивания монокристаллов для изделий микроэлектроникиСеров Александр Алексеевич

Нематические жидкие кристаллы в неразрушающем контроле материалов и изделий микроэлектроникиМошель, Николай Васильевич

Конструктивно-технологические методы и средства микромонтажа кристаллов конкурентноспособных изделий микроэлектроникиЕмельянов, Виктор Андреевич

Технология изготовления полиимидных коммуникационных структур для сборки высокоинтегрированных изделий микроэлектроникиДарбинян Артур Владимирович

Развитие методов зондовой микроскопии для исследования и контроля поверхностей материалов и изделий микроэлектроникиЛосев Виталий Викторович

Разработка и исследование операционных преобразователей электрических величин для систем технологического контроля изделий микроэлектроники Андреев Анатолий Борисович

Методы обеспечения надежности изделий микроэлектроники на основе принципов теории управления качествомРубаник, Юрий Тимофеевич